光ファイバーひずみセンサー FOS-Nは、小型で高精度、高温域のひずみ計測、EMI／RFIの影響を受けずに腐食性の強い環境での計測など、従来のセンサーでは対応が困難であった環境でも、ひずみの測定を可能にしたひずみセンサー。熱による影響は、従来の電気的ひずみゲージよりも遥かに優れており、広い温度範囲において、残留ひずみを通常わずか0.5μ_/℃以下に制御します。
FOS-Nは、ファブリペロー干渉（FPI）の概念に基づいてデザインされています。基本的にFPIは、相対する2枚のミラーで構成されております。ミラーを分離している空間はキャビティー長と呼ばれており、FPI内で反射した光は、キャビティー長に応じて波長変調されます。ゲージに伝わったひずみは、様々なキャビティー長に変化し、それをひずみとしてコンディショナーで検出します。また、入射側ファイバーが、ひずみを感知するファイバーから機械的に切り離されているということは重要なポイントです。このデザインによって、接着剤の使用や操作のために生じる入射側ファイバーの影響に対しても、ひずみを測定するキャビティー長は影響されません。これは、複合材に固定する場合などに非常に有効です。
当社では静的､動的な計測、チャンネル数によって、各種コンディショナーを取り揃えております。すべての光ファイバーセンサー（温度、変位、圧力、ひずみ、荷重）は、併用が可能で、全てのコンディショナーに対応することができるというコスト的メリット、利便性を備えています。これにより、先端技術を駆使した信頼性ある光ファイバーを基に広範囲な計測プランをご提供できます。