3次元計測用校正プレートは標準の物以外にミクロスケール用、赤外線用、高解像度カメラ用、低解像度カメラ用など、多くのラインナップを揃えています。Correlated Solutionsの3次元計測用校正プレートは専用品としてメーカで設計および製造されている為、用途に応じて適したものが提案可能です。
キャリブレーション作業は非常にシンプルで、ステレオカメラペアの前で3次元計測用校正プレートを移動しながら撮影することで、カメラの内部パラメータと外部パラメータが正確に計算され、カメラ位置の三角測量とレンズひずみ除去が実施されます。
キャリブレーション作業は非常にシンプルで、ステレオカメラペアの前で3次元計測用校正プレートを移動しながら撮影することで、カメラの内部パラメータと外部パラメータが正確に計算され、カメラ位置の三角測量とレンズひずみ除去が実施されます。
標準3次元計測用校正プレート（30mm～2000mm）
標準ステレオ3次元計測用校正プレートセットは、各VIC-3Dシステムに付属しており、30mmから2000mmまでの視野をカバーします。各ターゲットは、VIC-3D Ver7以降でターゲットサイズの自動検出が可能になっています。近年のカメラの高解像度化に伴い、高精細カメラ用の3次元計測用校正プレートもラインナップしています。正確な3次元計測用校正プレート測定が必要な場合、メーカーから間隔パラメータの詳細な測定を提供するNISTトレーサブル証明書も提供可能です。
広範囲計測（2000mm～）用の三次元校正方法
最大のターゲットは、約2メートルの視野に対応します。上記より広い視野でのキャリブレーションが必要な場合、単一のターゲットはなく、「外部方位校正」と呼ばれる校正技術で対応します。これは、最初に各カメラを最大の標準3次元計測用校正プレートで個別にキャリブレーションし、次に試料の表面上の既知の距離を使用してスケールをキャリブレーションする2段階の手法になります。
ガラス3次元計測用校正プレート
30mm未満の視野を校正する場合、マーカーの製造分解能の制限により、標準3次元計測用校正プレートは理想的ではありません。そこで0.7mmから7mm（マイクロ）および~7mmから30mm（マクロ）の小規模キャリブレーションのために、ガラス3次元計測用校正プレートをラインナップしています。すべてのガラスターゲットは、ガラスプレートの表面に青色クロムのメッキを作成するフォトリソグラフィープロセスによって作成されています。適切なバックライトを使用すると、これらのターゲットは高倍率でシャープなエッジを提供します。専用のターゲット固定具を使用することで、ターゲットを安定させながらキャリブレーションを行うことが可能です。
マクロスケールキャリブレーション（～7-30mm）
2種類（20-30mm視野、~7mm-20mm視野）の4つの3次元計測用校正プレートがセットになったターゲットを用意しています。両方のターゲットは、ジンバルアセンブリ、バックライトが付いた固定具とセットになっていて、小さな視野を校正する際の安定性と柔軟性の両方が保証されます。
マイクロスケールキャリブレーション（0.7-7mm）
0.7mmから7mmの視野には、マイクロスケールの3次元計測用校正プレートが必要になります。Micro-DICシステムや顕微鏡システムを使用する場合でも、マイクロスケールのスペックルパターンおよび3次元計測用校正プレートを正確に計算し、複雑な光学歪みを補正します。VIC-3Dの特許取得済みの高倍率キャリブレーションアルゴリズムを実装している為、この様な倍率での正確なDIC測定が実現可能になっています。
ガラス/液体によるキャリブレーション
VIC-3Dに搭載されている可変光線原点（VRO）キャリブレーション機能は、スペックル パターンとステレオカメラペアの間の屈折率の変化を補正する独自のステレオキャリブレーション機能になります。1つ以上のガラス板（例えば、加熱室のビューポート）を通して試料をイメージングする場合、または試料が液体に沈められている場合に有効な機能となります。
両面スペックル3次元計測用校正プレート（35mm-1500mm）
対向する2式のVIC-3Dシステムを同時にキャリブレーションする為に開発されたターゲットで、比較的簡単に共通座標系に結合することが可能になります。厚さやネッキングの測定の様な被計測物の表裏両面の同時計測が必要な場合に必須なアイテムとなります。
ひずみおよび変形測定に加えて温度測定を必要とするアプリケーションの場合、VIC-3D IRシステムとIR3次元計測用校正プレートが必要になります。IR3次元計測用校正プレートを使用することで、赤外線カメラで得られる温度測定値をVIC-3DのDICデータに正確にオーバーレイできるようになります。キャリブレーションを成功させるには、ターゲット上のドットがIRスペクトルと可視光スペクトルの両方で見える必要があります。
VDI2626規格の3DDICシステムへの適用
VDI2626はドイツ技術協会が提唱しているデジタル画像相関に関する指令とガイドラインで、デジタル画像相関システムの性能の確認の為の基本的な手順が記述されています。試験内容はひずみ測定と組み合わせたゼロ変形試験で、試験結果はVDI2626に準拠した3Dシステムのセットアップシステムとシステムソフトウェアの特性値を生成する為に使用されます。VIC-3Dでは専用のVDI2626のプレートを用意しています。
3次元計測用校正プレートジェネレータ
3次元計測用校正プレートやスペックルパターンを印刷したい場合、このプログラムを使用して独自のターゲットを作成することができます。ターゲットをセルフプリントする場合、高解像度のプリンターを使用し、硬いプレートに接着する必要があります。
→ 3次元計測用校正プレートやスペックルパターンのダウンロードはこちらから
注）一部のブラウザでは、ファイルを正常にダウンロードするために、リンクを右クリックして[名前を付けて保存]を選択する必要があります。
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