μTSは、ナノインデンターとマクロユニバーサルロードフレーム間の長さスケールで独自に機能する、小型のユニバーサル材料試験システムです。
デジタル画像相関（DIC）と顕微鏡を組み合わせることで、小さなサンプルのひずみの測定を可能にします。光学顕微鏡での高倍率測定では、サンプルが焦点から外れるとピントが合わず適した画像を得られません。しかし、µTSでは画外運動を最小に抑えるべく様々な工夫がなされており、高精度な測定を実現できます。
また、
●豊富な形状のグリップ
●センタリングステージ（X-ステージ）
●恒温チャンバー
といったオプションも取り揃えており、様々なニーズにお応えできる試験機であると言えます。